​电镀镀层膜厚检测仪 快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度的要求。 方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上进的电制冷半导体探测器，测试精度更高，操作使用方便。并且运行成本比同类的其他产品更低。 无损：测试前后，样品无任何形式的变化。 直观：实时谱图，可直观显示元素含量。 测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。 可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度，重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。