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天光测控 ST-PC-X半导体器件老化测试筛选系统

  • 价格

    ¥248000
  • 起订量

    1
  • 产品标签

    半导体器件老化测试,功率半导体老化测试,IGBT老化评估检测
  • 库存总量

    100件
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认证资料 Certification Data

西安天光测控技术有限公司

  • 联系人:郭女士
  • 官网地址:www.xatgck.com
  • 主营产品:半导体,测试设备,的研发,生产,销售
  • 所在地:陕西省-西安市-雁塔区陕西省西安市高陵区泾环北路1798号11-303
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提供样品 :
加工定制 :
类型 :
柜式
是否有现货 :
品牌 :
天光测控
测量范围 :
Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等半导体器件的环境老化
规格 :
HTRB高温反偏,HTGB高温栅偏,H3TRB高温高湿反偏

产品详情

Product details

*品      牌:  天光测控

*型      号:  ST-PC-X

*用      途:  可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等半导体器件的环境老化状态,作评估筛选检测。

*测 试类 别:  HTRB高温反偏,HTGB高温栅偏,H3TRB高温高湿反偏1、可以通过计算机设定试验参数(Vce、Ices、Tc、时间、采样周期)和监控参数(Vce、Ice、Tc、T,实时采集并记录试验过程中每个工位的温度(Tc)、时间、电压、漏电流等,并可随时浏览数据。

2、 当被测器件失效时(Ices超限),系统能自动检测、报警,并可及时切断高压电源(不需要中断加热),停止试验,该失效点的详细数据会被记录下来,并记录失效时间节点。

使用说明:

1、可以通过计算机设定试验参数(Vce、Ices、Tc、时间、采样周期)和监控参数(Vce、Ice、Tc、T,实时采集并记录试验过程中每个工位的温度(Tc)、时间、电压、漏电流等,并可随时浏览数据。

2、 当被测器件失效时(Ices超限),系统能自动检测、报警,并可及时切断高压电源(不需要中断加热),停止试验,该失效点的详细数据会被记录下来,并记录失效时间节点。

采购须知:

*关于售后:质保一年,提供免费上门巡检服务;客服7*24小时开通/电脑远程服务。

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  • 联系人姓名:郭女士
  • 联系人职位:销售主管
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