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北京世迈腾科技有限公司

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集成电路测试系统特点是什么?

发布时间:2020-10-29

 ● 完善的测试测量设备。 ● 测量全过程和数据管理自动化。集成电路测试系统 FORMULA® HF3 平台测试系统有两个型号: FORMULA® HF3 和 FORMULA® HF3512,都是用于多种高速超大规模集成电路的功能测试,包括:微型控制器、静态和动态存储、超大规模集成电路母片(master slice)、ASIC、FPGA等,信号输出高达256/512,工作频率高达200MHz。   应用范围 FORMULA  HF3 测试系统是一套用于测试超高频率超大规模集成电路的功能和参数的自动测试设备。 用于超大规模集成电路的质量控制、新开发的超大规模集成电路品种的测试和研究以及系列产品的生产监控。 FORMULA HF3 测试系统能满足微电子领域的计量测试标准。   FORMULA HF3 平台测试系统的基本技术特性和功效 FORMULA HF3 平台测试系统是为了可靠测试多种大规模集成电路而研发出来的。 这个测试系统的关键技术特性,由下列数值确定: ● 通用双向通道数——高达256/512. ● 功能测试频率——每个

 ● 方便用户的全功能软件。 ● 测量配件快速互换。 ● 自动诊断和计量校准。

 ● 自动探针、带有自动装料、测试设备和仪器的操作模式。 ● 高容量多点模式。 ● 全昼夜连续可靠工作。

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