无锡创凯蓝膜芯片检测AOI设备怎么样？有人了解吗？

无锡创凯旗下的蓝膜芯片瑕疵检测AOI设备为晶圆切割后芯粒检测设备，使用先進的打光技術，可以清楚的辨别芯粒的外观瑕疵。結合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得设备可广泛应用于LED、激光二极管及光敏二极管等精密电子产业。由于使用的高速相机以及自行开发的深度学习AI算法，设备可以快速高效的检测出芯品的缺陷瑕疵， 单颗芯片的处理时间可以达到15msec。设备同时提供自动对焦与翘曲补偿功能，以克服芯片薄膜的翘曲与载具的水平问题。设备配备自动变焦镜头系统，百万级数码变焦彩色相机，使用者可快速依芯粒或瑕疵尺寸进行操作。系统的小分辨率为0.5um，可以检测1.5um尺寸的瑕疵产品。希望对您有所帮助。

无锡市创凯电气控制设备有限公司主要从事的就是工业自动化控制领域检测类的产品研发及解决方案。无锡创凯研制的蓝膜芯片瑕疵检测AOI设备性能优异，在辨别芯粒的外观瑕疵方面有着很高的效率，在市场上的使用评价不错，感兴趣建议可以实地考察一下。

无锡创凯有着对工业控制领域多年积累的经验，在蓝膜芯片检测AOI设备的生产制造上有雄厚的技术实力，所出品的蓝膜芯片检测AOI设备智能化程度高，应用广泛，能够为客户解决众多高端制造中的多种难题，有着很好的行业口碑。