半导体测试系统功能有哪些？

半导体测试系统用于全面自动检验半导体设备静态参数的通用测试和测量系统，包括：场效应管和双极型晶体管、绝缘栅双极型晶体管、二极管、晶闸管、稳压管、光导发光组件和微电子组件，以及： ● 电容测量：用于场效应晶体管和绝缘栅双极型晶体管的输入、交叉和输出电容。半导体测试系统 FORMULA® TT3 由FORMULA® TT3 ATE提供的各个阶段的高水平全面自动化测试过程，使得我们有可能专注于半导体器件测试的运行特性和偏差分析上。 硬件/软件、设计以及在系统测试中实现的计算解决方案保证了高度可靠的结果，这些结果使测试人员的工作不受程序和误差的影响，并在工业设备进行测量和测试时显著提高操作效率。

半导体测试系统用在进行半导体器件新开发类型的测试和研究，以及批量生产中测试时对半导体器件的质量控制。 FORMULA® TT3满足微电子测量和测试的计量标准要求。

半导体测试系统用于场效应晶体管和绝缘栅双极型晶体管的栅漏、栅源和总电荷； ● 被动组件特定参数测量（L、C、R）。